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其他產(chǎn)品及廠家

管道內(nèi)壁輪廓測量系統(tǒng)
本套管道內(nèi)壁輪廓測量系統(tǒng)是一種檢測工具，它使用激光表面輪廓測量來提供高精度的橫截面尺寸輪廓和難以觸及的管狀內(nèi)部的測量，無論其幾何形狀或材料表面如何。它特別適合定子檢查，設(shè)計(jì)用于測量長度達(dá)10英尺(3米)的規(guī)則和不規(guī)則尺寸半；使檢查定子部分長可達(dá)20英尺(6米)。
更新時(shí)間:2025-11-07
ASTM G76 Gas Jet空氣射流沖蝕試驗(yàn)機(jī)
說明：本套桌面式氣體沖蝕試驗(yàn)機(jī)astm-g76 gas jet用于確定攜帶顆粒的氣體射流對(duì)實(shí)驗(yàn)材料造成的磨損程度。實(shí)驗(yàn)材料可以是硬涂層和軟涂層，也可以是整塊材料。astm g76 gas jet空氣射流沖蝕試驗(yàn)機(jī)利用控制腐蝕劑流量對(duì)試樣經(jīng)行沖擊試驗(yàn)。該測試系統(tǒng)允許用戶控制顆粒尺寸、沖擊速度、入射角度、環(huán)境狀況和溫度。抬高的x軸導(dǎo)軌提供了超快動(dòng)態(tài)性
更新時(shí)間:2025-11-07
50倍尼康相干測量物鏡
干涉測量鏡頭可用在非接觸光學(xué)壓型測量設(shè)備上，通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數(shù)等。也可用來檢測表面粗糙度，測量精度非常高，在一個(gè)波長之內(nèi)。一束光通過分光鏡，可將光直接射向樣品表面和內(nèi)置反光鏡。從樣品表面反射的光線通過再結(jié)合，就產(chǎn)生了干涉圖案。與mirau鏡頭比起來，michelson鏡頭擁有更長的工作距離，更寬的視場和更大的焦深。mirau鏡頭用在需要高倍率和/或大數(shù)值孔徑的場合。采用niko
更新時(shí)間:2025-11-07
氣流噴砂沖蝕試驗(yàn)機(jī)
沖蝕磨損是由顆？諝馍淞髯矒粼诠腆w表面上的沖擊而引起的。侵蝕導(dǎo)致的航空航天零部件，燃?xì)廨啓C(jī)，鍋爐和電廠的生命損失。為了限度地提高壽命，適當(dāng)選擇的材料在這樣的應(yīng)用中使用是必需的？諝馍淞鳑_蝕astm?g76試驗(yàn)機(jī)便于在各種條件下測定的磨損率。磨損率可以用來確定在給定操作條件的材料。它也可以被用來預(yù)測使用壽命和壽命周期成本。
更新時(shí)間:2025-11-07
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)是山東天合環(huán)境科技有限公司研發(fā)生產(chǎn)，可以及時(shí)避免人員、車輛誤入深水路段造成重大人身傷害與經(jīng)濟(jì)損失。
更新時(shí)間:2025-11-07
城市內(nèi)澇積水監(jiān)測設(shè)備-電子水尺傳感器
每逢汛期，城市內(nèi)澇便成為威脅市民出行安全、影響城市正常運(yùn)轉(zhuǎn)的 “頑疾”。從低洼路段的積水圍困，到地下通道的險(xiǎn)情頻發(fā)，傳統(tǒng)內(nèi)澇監(jiān)測手段因精度不足、覆蓋有限，難以滿足城市防汛的精細(xì)化需求。而電子水尺傳感器作為城市內(nèi)澇積水監(jiān)測設(shè)備，憑借精準(zhǔn)、耐用、智慧的核心優(yōu)勢，成為守護(hù)城市汛期安全的 “硬核力量”，為城市內(nèi)澇治理提供了可靠的技術(shù)支撐。
更新時(shí)間:2025-11-07
Fluke 6200-2便攜式電器安規(guī)測試儀
fluke 6200-2 pat測試儀是輕便、小巧的一鍵式解決方案，6200-2的設(shè)計(jì)宗旨是在不影響您和客戶安全的前提下更快地工作。一鍵式解決方案...只需按下一個(gè)按鈕，即可啟動(dòng)預(yù)設(shè)測試程序。簡化測試實(shí)現(xiàn)更快更高效的工作方式。6200-2重約為3 kg，重量輕、易攜帶。堅(jiān)固耐用的便攜箱(標(biāo)配)可以提供運(yùn)輸保護(hù)還提供額外存儲(chǔ)空間。體積小...該便攜式電器測試儀結(jié)構(gòu)非常緊湊，并且具有福祿克一貫的耐用性
更新時(shí)間:2025-11-07
流動(dòng)測震儀
bc302流動(dòng)測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機(jī)器狀態(tài)檢測儀器，具有振動(dòng)測量和評(píng)價(jià)、軸承狀態(tài)檢測和評(píng)價(jià)功能。流動(dòng)測震儀振動(dòng)檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，測量準(zhǔn)確測量速度≥1.5m/s,存 儲(chǔ)溫度-10℃~60℃, 用于振動(dòng)檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.
更新時(shí)間:2025-11-07
超聲檢查訓(xùn)練體模 模擬真實(shí)人體腹部外觀結(jié)構(gòu)
超聲檢查訓(xùn)練體模，體模擬真實(shí)人體腹部外觀結(jié)構(gòu)，包括上腹部到下腹部的腹部模塊，具有雙側(cè)乳頭、肋弓和肚臍等體表結(jié)構(gòu)，嵌入式底座外形，底座平坦，滿足超聲檢查時(shí)不移動(dòng)。體模內(nèi)部解剖結(jié)構(gòu)仿真，具有肝臟、膽囊、胰腺、脾臟、腎臟、胃部、腹主動(dòng)脈、下腔靜脈、左右髂總動(dòng)脈和靜脈等解剖結(jié)構(gòu)。表面應(yīng)光滑，無明顯瑕疵或破損，具有腹部的外形和弧度，營造仿真的超聲檢查情景。
更新時(shí)間:2025-11-07
實(shí)驗(yàn)裝置
ssgh-1型牛頓環(huán)實(shí)驗(yàn)裝置實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：1、觀測牛頓環(huán)干涉現(xiàn)象2、用牛頓環(huán)測量平凸透鏡曲率半徑基本配置及參數(shù)：編號(hào)名稱規(guī)格件數(shù)1鈉燈低壓鈉燈，功率20w1套2低壓鈉燈電源220v，50hz1套3牛頓環(huán)牛頓環(huán)平凸透鏡
更新時(shí)間:2025-11-06
電子引伸計(jì)
yyu-25/100電子引伸計(jì)引伸計(jì)結(jié)構(gòu)及工作原理 ：應(yīng)變片、變形傳遞桿、彈性元件、限位標(biāo)距桿、刀刃和夾緊彈簧等。測量變形時(shí), 將引伸計(jì)裝卡于試件上, 刀刃與試件接觸而感受兩
更新時(shí)間:2025-11-06
顯微鏡
iia（b）型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種三目觀察儀器，具有較長的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質(zhì)量，以及7x-180x連續(xù)改變放大倍率等特點(diǎn)。操作簡單，使用方便，可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析
更新時(shí)間:2025-11-06
顯微鏡
ia（b）型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種雙目觀察儀器，具有較長的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質(zhì)量，以及7x-225x連續(xù)改變放大倍率等特點(diǎn)。操作簡單，使用方便，可供電子工業(yè)、臨床手術(shù)、巖礦分析、
更新時(shí)間:2025-11-06
測試儀
德國美翠mi2127精密接地電阻測試儀/土壤電阻率儀（二、三、四線法測量接地電阻和土壤電阻率） 采用傳統(tǒng)的打地樁方式來測量接地電阻，可用二、三、四線法，可測量
更新時(shí)間:2025-11-06
微壓計(jì)
axd610、axd620微壓計(jì)（美國alnor）儀器介紹：axd610和620微壓計(jì)使您在hvac的壓力測試更加簡單。這些結(jié)實(shí)耐用的儀器可以使用皮托管測量風(fēng)管內(nèi)風(fēng)速。axd610手持式數(shù)
更新時(shí)間:2025-11-06
表面粗糙度儀
美國lee粗糙度儀粗糙度儀rl100是美國lee公司新出的新一代粗糙度儀，也叫袖珍便攜式表面粗糙度儀。它具有測量精度高、測量范圍寬、操作簡便、便于攜帶、工作穩(wěn)定等特點(diǎn)，可以廣泛應(yīng)用于各種金屬與非金屬的加工表面的檢測，該粗糙度儀是傳感器主機(jī)一體化的袖珍式粗糙度儀，具有手持式特點(diǎn)，更適宜在生產(chǎn)現(xiàn)場使用。外形采用拉鋁模具設(shè)計(jì)，堅(jiān)固耐用，抗電磁干擾能力顯著，符合當(dāng)今設(shè)計(jì)新趨勢。
更新時(shí)間:2025-11-06
防腐層撿漏儀北京廠家
防腐層撿漏儀北京廠家 dj-6（a/b）型電火花檢漏儀檢測厚度:0.05～10mm，輸出電壓:0.6kv～30kv,dj-6(a)檢測厚度：0.03～1.5mm，輸出高壓：600v～8000v 是用于檢測金屬防腐涂層質(zhì)量的專用儀器，使用本儀器可以對(duì)不同厚度的搪玻璃、玻璃鋼、環(huán)氧煤瀝青和橡膠襯里等涂層，進(jìn)行質(zhì)量檢測。
更新時(shí)間:2025-11-06
LSCG數(shù)顯PPM可燃?xì)怏w檢測儀美國CPS原裝進(jìn)口欣銳儀器代理測爆儀
lscg leak-seeker提高了可燃?xì)怏w檢漏儀的標(biāo)準(zhǔn)，使其成為暖通空調(diào)人員定位和查明泄漏的工具。lscg幫助您確保沒有危險(xiǎn)的泄漏，因此您可以保持。先可燃?xì)怏w泄漏檢測儀大型背光lcd顯示屏可獲得讀
更新時(shí)間:2025-11-06
OTC5609C氣瓶泄漏測試儀
美國otc5609c氣瓶泄漏測試儀
更新時(shí)間:2025-11-06
德國PTL五檔可調(diào)彈簧沖擊錘
更新時(shí)間:2025-11-06
PTL溫升測試角進(jìn)口測試角
ptl溫升測試角，進(jìn)口測試角，ptl溫度測試角，p06系列測試角
更新時(shí)間:2025-11-06
德國PTL插頭力矩試驗(yàn)儀
更新時(shí)間:2025-11-06
德國PTI表面粗糙度測試儀62600
更新時(shí)間:2025-11-06
德國PTL試驗(yàn)彎指
更新時(shí)間:2025-11-06
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時(shí)序測試，紋波測試，抖動(dòng)測試
更新時(shí)間:2025-11-06
ETS-LINDGREN近場探頭，硬件測試，開放實(shí)驗(yàn)室，DDR測試，時(shí)序測試，紋波測試，抖動(dòng)測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-11-06
Nemtest dito靜電放電模擬器，硬件測試，開放實(shí)驗(yàn)室，DDR測試，時(shí)序測試，紋波測試，抖動(dòng)測試
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時(shí)間:2025-11-06
PCIE2.0 3.0 驗(yàn)證 調(diào)試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-11-06
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-11-06
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-11-06
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2025-11-06
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號(hào)質(zhì)量一致性測試
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題
更新時(shí)間:2025-11-06
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2025-11-06
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào)，其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-11-06
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來越低，對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2025-11-06
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個(gè)是type00h配置請求，另個(gè)是type 01h配置請求。
更新時(shí)間:2025-11-06
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2025-11-06
Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時(shí)間:2025-11-06
Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時(shí)間:2025-11-06
Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號(hào)波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2025-11-06
梅特勒電極（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣）
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2025-11-06
EMMC 上電時(shí)序測試 電源紋波測試
emmc 上電時(shí)序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2025-11-06
EMMC 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
emmc 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-11-06
EMMC 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
emmc 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
更新時(shí)間:2025-11-06
EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個(gè)典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2025-11-06
EMMC4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
emmc4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2025-11-06
Emmc5 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2025-11-06
EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-11-06
EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2025-11-06

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑