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fluke 6200-2 pat測試儀是輕便、小巧的一鍵式解決方案，6200-2的設計宗旨是在不影響您和客戶安全的前提下更快地工作。一鍵式解決方案...只需按下一個按鈕，即可啟動預設測試程序。簡化測試實現(xiàn)更快更高效的工作方式。6200-2重約為3 kg，重量輕、易攜帶。堅固耐用的便攜箱(標配)可以提供運輸保護還提供額外存儲空間。體積小...該便攜式電器測試儀結構非常緊湊，并且具有福祿克一貫的耐用性
更新時間:2025-11-06
揚州捷通供水技術設備有限公司生產(chǎn)的jt-tld電子式聽漏棒實質上是個精簡化的電子放大式聽漏儀。它的方便、可靠性建立在先進的集成性上。
更新時間:2025-11-06
jt－5000漏水探測儀數(shù)字濾波型采用微處理器數(shù)字化處理線路，，在復雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實時漏水靈音，高靈敏主動式傳感器，光電無觸點手柄開關，大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2025-11-06
jt－1a漏水探測儀高靈敏智能型采用微處理數(shù)化線路，高保真高降噪信號顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機身。
更新時間:2025-11-06
jt－sc01手持式地下管道漏水檢測儀小巧便攜，手持即可檢測，可檢測各種類型水、油、氣等壓力管道的泄漏，包括鋼、鑄鐵、pvc、水泥管及石棉管等。
更新時間:2025-11-06
jt-3ax管道泄漏檢測儀采用了雙模傳感技術、現(xiàn)代音頻信號處理技術、嵌入式微處理器技術、智能數(shù)據(jù)分析及輔助圖形技術等當先進技術，其聽音效果清晰、適合復雜工況場合、智能化數(shù)據(jù)分析、可靠穩(wěn)定，是款有效巡檢管道和定位泄漏的先進測漏儀器。jt-3ax通過傳感器拾取地下壓力管道破損泄漏產(chǎn)生的振動信號來準確定位泄漏點的位置。
更新時間:2025-11-06
jt-2000型漏水檢測儀為袖珍便攜式漏水檢測儀，主機體積只有150mm×70mm×116mm大小，重約870克，攜帶操作為輕巧簡便，整體設計采用全金屬外殼，堅固耐用。
更新時間:2025-11-06
jt-3000漏水檢測儀是用于尋找并確定供水管道漏位置的用儀器，也可用于其它壓力管道系統(tǒng)的檢漏，當管道內(nèi)流體在壓力下逸出時，產(chǎn)生噪音能沿管道傳播，或沿埋層介質傳播到地面，檢漏儀jt-3000能沿管線或其路面上方確定漏點位置。
更新時間:2025-11-06
jt-5000智能型數(shù)字濾波管道漏水檢測儀采用微處理器數(shù)字化處理線路，在復雜的環(huán)境中亦可探測漏水，大屏液晶，小值顯示，實時漏水錄音，高靈敏主動式傳感器，光電無觸點手柄開關，大容量鋰離子充電電池。
更新時間:2025-11-06
jt-sc01型手持式智能數(shù)字式泄漏檢測儀特點是小巧便攜，手持即可檢測。其原理是各類水油氣等帶壓管道當某處破損泄漏時，壓力水油氣從管道破損處向處噴射，與管道破裂縫隙間的摩擦而產(chǎn)生振動會引起噴注噪聲，這種聲音隨管道向兩側和埋設地面上方路面?zhèn)鞑，此時用jt-sc01型泄漏檢測儀的傳感器在路面上方檢測這種微弱泄漏信號，通過主機進行放大顯示，并有選擇的過濾噪音，獨立出泄漏聲波，使操作者找到泄漏源
更新時間:2025-11-06
jt-1a地下管道泄漏檢測儀，是款性能其優(yōu)異的壓力管道泄漏檢測儀器，擁有超強的抗干擾與數(shù)據(jù)處理能力，輸出泄漏信號清晰靈敏，操作界面目了然，可以使您的工作更加輕松，它具有以下主要特點：微處理器數(shù)字經(jīng)線路，高保真高降噪信號顯示，耳感逼真，清晰度高，高靈敏度傳感器，大容量充電鋰電池，輕量微型化機身。
更新時間:2025-11-06
lscg leak-seeker提高了可燃氣體檢漏儀的標準，使其成為暖通空調人員定位和查明泄漏的工具。lscg幫助您確保沒有危險的泄漏，因此您可以保持。先可燃氣體泄漏檢測儀大型背光lcd顯示屏可獲得讀
更新時間:2025-11-06
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-11-06
出租agilent usb3.0測試夾具u7242-26401
更新時間:2025-11-06
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-11-06
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-11-06
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-11-06
pcie總線的層次組成結構與網(wǎng)絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結構中，數(shù)據(jù)報文先在設備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-11-06
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-11-06
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-11-06
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-11-06
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-11-06
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-11-06
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-11-06
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實踐經(jīng)驗，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經(jīng)驗，但是經(jīng)驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-11-06
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調性。
更新時間:2025-11-06
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-11-06
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產(chǎn)品設計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-11-06
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-11-06
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-11-06
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-11-06
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-11-06
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-11-06
相關產(chǎn)品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-11-06
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-11-06
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-11-06
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-11-06
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-11-06
相關產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-11-06
相關產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-11-06
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-11-06
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