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流動測震儀
bc302流動測震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機器狀態(tài)檢測儀器，具有振動測量和評價、軸承狀態(tài)檢測和評價功能。流動測震儀振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，測量準確測量速度≥1.5m/s,存 儲溫度-10℃~60℃, 用于振動檢測、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測量，應急救災地完整配置.
更新時間:2025-11-07
中海達V300實景放樣RTK
通道數(shù) ：1408操作系統(tǒng):linux操作系統(tǒng)rtk平面精度:±（8+1×10-6d）mm；高程精度：±（15+1×10-6d）mm
更新時間:2025-11-07
科力達天越實景放樣RTK
靜態(tài)cnss測量水平： ±(2.5+0.5×10-6 d)mm （d為所測量的基線長度）高程：±(5.0+0.5×10-6 d)mm（d為所測量的基線長度）實時動態(tài)測量水平：±(8+1×10-6 d)mm 高程：±(15+1×10-6 d)mm
更新時間:2025-11-07
華測K90視覺放樣測量RTK
精靈k90視覺放樣rtk，集成了華測視覺放樣技術，精靈k90口袋慣導rtk的小巧輕便，干活不累。
更新時間:2025-11-07
華測K80工程測量RTK
624通道，支持北斗全星座，支持北斗三代衛(wèi)星
更新時間:2025-11-07
千尋星矩srmini是千尋位置新推出的小型rtk設備，標配千尋知寸5星16頻服務，同時具備新型無網絡測量功能，真正實現(xiàn)隨用隨測，兼具慣導、電臺功能，是一款小、輕、便攜的云端一體rtk。
更新時間:2025-11-07
中海達Qmini A10手持北斗GPS
單點定位：3msbas定位：1m差分定位：2cm+1ppm
更新時間:2025-11-07
多功能戶外北斗GPS手持機佳明GPSMAP679
尺寸：6.2x16.3x3.5cm重量：230克，含電池防水等：ipx7屏幕尺寸：3.8x 6.3cm；直徑7.6cm屏幕分辨率：240x400像素
更新時間:2025-11-07
佳明eTrex221x雙星手持GPS
掌上型雙星測量gps，雙星(gps+glonass)快速能力。etrex 221x采用防眩彩色屏幕，強光下依然清晰可見，適合野外測量作業(yè)。五向搖桿式按鍵操作設計，讓操作更加靈活自由
更新時間:2025-11-07
Garmin佳明GPSmap669s北斗手持GPS
3英寸陽光下清晰可視的彩色顯示屏，更方便查看。與僅使用gps加上三軸羅盤和氣壓高度計相比面積測量功能，航跡、等寬、航線、規(guī)則地、坡地五種測量方法。涵蓋各行各業(yè)的各種需求，獨立的測面積航跡管理。
更新時間:2025-11-07
集思寶G6單北斗數(shù)據(jù)采集手持機
集思寶g6手持機配3.2寸高亮度觸摸屏及實體按鍵，操作簡便。內置四核高效處理器，保障高效運算的同時降低功耗，同時搭載大容量鋰電池，支持長時間工作。此外g6內置8g還支持tf卡擴展，滿足海量數(shù)據(jù)存儲需求，并內置高精度電子羅盤和氣壓計，支持氣壓測高，有效提升高程測量精度。
更新時間:2025-11-07
彩屏觸摸屏1″全站儀科力達KTS-491R10L
類型 windows ce 6.0中文操作系統(tǒng) cpu intel pxa310處理器，主頻806mhz 內存 128mb ddr,512mb nandflash
更新時間:2025-11-07
徠卡DISTO? X6激光測距儀
儀器型號：disto? x6測量范圍：0.05m-250m測量精度：±1mm
更新時間:2025-11-07
彩途K72B北斗手持GPS
彩途k72b 采用新代gnss芯片設計，可以支持北斗、gps、glonass單獨或組合使用；四螺旋天線設計，采集迅速；開放的地圖架構，內置地圖，支持用戶自制矢量地圖、影像和各類柵格地圖
更新時間:2025-11-07
彩途K82B北斗手持GPS
2.83”半反半透彩色顯示屏，視野開闊，分辨率于同類產品，畫面細膩；支持鋰電池與aa電池供電方式，適合野外長時間工作;產品三防設計，可漂浮水面
更新時間:2025-11-07
智圖GISA S10安卓版測量GPS平板
gisa s10選用android 7.0操作系統(tǒng)，64位四核處理器，高性能cpu，支持重力傳感器，大容量存儲，配備4200mah鋰電池保證長時間外業(yè)工作
更新時間:2025-11-07
智圖H60安卓版平板測量GPS
智圖h60高精度gps平板，支持多星多頻gnss采集模塊， 運行安卓8.1系統(tǒng)，搭載八核cpu操作體驗。ip67工藝機身無懼水濺和防塵。厚度僅僅為13mm，工業(yè)平板的輕靈之美。
更新時間:2025-11-07
集思寶G138BD北斗手持采集GPS
接收：北斗b1、gps l1、glonass l1支持sbas通 道 數(shù)：72類 型：gps/北斗/gps+glonass/gps+北斗精 度：單點：2-5m　　　　sbas：1-3m
更新時間:2025-11-07
集思寶G639安卓版手持GPS
系統(tǒng)版本基于android 7.0 定制系統(tǒng)處 理 器驍龍4核處理器通 道 數(shù)72天線類型螺旋天線精度 單點：2-5m；sbas：1-3m
更新時間:2025-11-07
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2025-11-07
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2025-11-07
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-11-07
EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-11-07
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2025-11-07
EMMC 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-11-07
EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-11-07
Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
相關產品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-11-07
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-11-07
EMMC5 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-11-07
EMMC5 復位測試 CLK測試
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-11-07
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復位測試
emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-11-07
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
相關產品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-11-07
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-11-07
CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-11-07
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-11-07
控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復位測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-11-07
數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-11-07
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-11-07
數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-11-07
復位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-11-07
PCIE2.0 3.0 驗證 調試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-11-07
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-11-07
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結構中，數(shù)據(jù)報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-11-07
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-11-07
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-11-07
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-11-07
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-11-07
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-11-07
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-11-07
Pcie1.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯(lián)網大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-11-07

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