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光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

便攜式透光率儀
ns15a透光率儀是一款寬譜線可見光(380nm～760nm)測量儀，測試原理是采用三路完全相同的可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三路光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時間:2025-11-07
臺式光學(xué)透過率測試儀
ns550h臺式光學(xué)透過率測試儀測試原理是采用紫外光源，紅外光源和可見光源照射被測透明物質(zhì)，感應(yīng)器分別探測三種光源的入射光強(qiáng)和透過被測透明物質(zhì)后的光強(qiáng)，透過光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過率，用百分?jǐn)?shù)表示。
更新時間:2025-11-07
線纜截面測試投影儀，線纜絕緣護(hù)套測試儀，線纜檢測投影儀
數(shù)碼管顯示處理器介紹1）點、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測量、預(yù)置和構(gòu)造2）座標(biāo)擺正和座標(biāo)平移，方便擺正工件，減少調(diào)整時間3）三軸的顯示值4）rs232輸出功能（可打。5）多種座標(biāo)顯示方式，極座標(biāo)和直角座標(biāo)、inc座標(biāo)和abs座標(biāo)公制和英制6）對光柵尺可進(jìn)行線性補(bǔ)償或區(qū)段線性補(bǔ)償7）z軸可接光柵尺或旋轉(zhuǎn)編碼器
更新時間:2025-11-07
電線電纜測量投影儀，絕緣護(hù)套測量儀
電線電纜測量投影儀，絕緣護(hù)套測量儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器，適用于以二坐標(biāo)測量為目的的一切應(yīng)用領(lǐng)域,機(jī)械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)廣泛使用，符合gb/t2951.1《電纜絕緣和護(hù)套材料通用方法》標(biāo)準(zhǔn)要求。
更新時間:2025-11-07
影像測量儀參數(shù)，二次元影像測量儀的價格，二次元測量儀特點
影像測量儀參數(shù)，二次元影像測量儀的價格，二次元測量儀特點主要是彌補(bǔ)了傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機(jī)將待測物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專業(yè)的影像測量軟件，便能高效檢測各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時間:2025-11-07
線纜檢測測量投影儀，工件輪廓測量投影儀，線纜投影儀的參數(shù)
線纜檢測用投影儀，輪廓檢測投影儀，絕緣護(hù)套檢測投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時間:2025-11-07
低倍測量投影儀，線纜光學(xué)投影儀，數(shù)字式電纜測量投影儀
低倍測量投影儀，線纜光學(xué)投影儀，數(shù)字式電纜測量投影儀被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時間:2025-11-07
測量數(shù)顯投影儀
電線電纜測量數(shù)顯投影儀的詳細(xì)描述： 電線電纜測量數(shù)顯投影儀主要技術(shù)參數(shù)： 1）電線電纜測量數(shù)顯投影儀投影屏面徑：￠300mm，內(nèi)刻式米字線，永不磨損。 2）電線電纜測量數(shù)顯投影儀旋轉(zhuǎn)角度數(shù)顯顯示值：0.01°或者1′
更新時間:2025-11-07
測量投影儀
測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-11-07
安徽電纜測量投影儀，江蘇輪廓測量投影儀，工業(yè)測量投影儀
工業(yè)測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-11-07
絕緣護(hù)套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀
絕緣護(hù)套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-11-07
輪廓測量投影儀批發(fā)，電線電纜廠用投影儀，低價電纜外被測量投影儀
輪廓測量投影儀批發(fā)，電線電纜廠用投影儀，低價電纜外被測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-11-07
影像測量儀，二次元影像測量儀，二次元測量儀
影像測量儀，二次元影像測量儀，二次元測量儀主要是彌補(bǔ)了傳統(tǒng)投影儀的不足，采用攝像機(jī)將待測物體拍攝成圖像，再傳輸?shù)诫娔X，然后用專業(yè)的影像測量軟件，便能高效檢測各種復(fù)雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時間:2025-11-07
線纜絕緣層測量投影儀哪家好，輪廓測量投影儀的價格，絕緣護(hù)套檢測投影儀多少錢
線纜絕緣層測量投影儀哪家好，輪廓測量投影儀的價格，絕緣護(hù)套檢測投影儀多少錢被測工件y置于工作臺上,在透射反射照明下,它由物鏡0成放大實像y′(倒像)并經(jīng)光鏡m1與m2反射于投影屏p的磨沙面上。
更新時間:2025-11-07
最新線纜絕緣層測量投影儀價格，電纜外被厚度測量投影儀性能介紹，絕緣護(hù)套輪廓測試投影儀哪家好
絕緣護(hù)套測量投影儀，電纜外被測量投影儀，300測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-11-07
輪廓測量投影儀參數(shù)，哪里有測量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測量投影儀
輪廓測量投影儀參數(shù)，哪里有測量線纜絕緣層投影儀，優(yōu)惠的測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-11-07
線纜厚度分析測量投影儀，最新電纜外被測量投影儀價格，最實惠機(jī)械測量投影儀
線纜厚度分析測量投影儀，最新電纜外被測量投影儀價格，最實惠機(jī)械測量投影儀是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-11-07
機(jī)械式輪廓測量投影儀參數(shù)，線纜絕緣厚度測量投影儀價格，電纜外被測量投影儀市場價格
機(jī)械式輪廓測量投影儀參數(shù)，線纜絕緣厚度測量投影儀價格，電纜外被測量投影儀市場價格是一種光、機(jī)、電一體化的精密高效光學(xué)計量儀器。測量投影儀被廣泛應(yīng)用于機(jī)械、儀表、鐘表、電子、電纜、橡膠、彈簧五金、建材、輕工等各行各業(yè)以及院校、研究所、計量檢定部門的計量室、試驗室和生產(chǎn)車間。測量投影儀高效率地檢測各種形狀復(fù)雜工件的輪廓尺寸和表面形狀。
更新時間:2025-11-07
GJX-2光干涉瓦斯測定器校正儀
gjx-2光干涉瓦斯檢定器校正儀是采用壓力連通器原理研制的。主要用于校驗光干涉式瓦斯測定器的精度及氣密性
更新時間:2025-11-07
ALD實時監(jiān)測儀
sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:2025-11-07
美國sinton少子壽命測試儀
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統(tǒng)，采用了獨特的測量和分析技術(shù)，包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測量方法。可靈敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
更新時間:2025-11-07
布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時間:2025-11-07
布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀，靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
更新時間:2025-11-07
布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
更新時間:2025-11-07
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b，可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時間:2025-11-07
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-11-07
美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000，根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊，輕巧，堅固耐用，符合人體工程學(xué)設(shè)計，便于在野外或?qū)嶒炇抑惺褂谩?/div> 更新時間:2025-11-07
日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時間:2025-11-07
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:2025-11-07
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數(shù)濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時間:2025-11-07
日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f，寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-11-07
日本RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體？蓽y 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:2025-11-07
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個通道，出廠默認(rèn)）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時間:2025-11-07
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-18f ( 光散射法）液體光學(xué)顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍，可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時間:2025-11-07
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法）,可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-11-07
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-11-07
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-42c ( 光散射法）,寬廣的測試范圍，可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-11-07
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本理音 rion 粒子計數(shù)器 ks-20f，檢測粒徑為0.02μm的顆粒，從0.02μm到0.08μm可達(dá)7個通道
更新時間:2025-11-07
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-01e ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2025-11-07
日本理音RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-03b ( 光散射法）,測試粒徑（5個通道）：≥0.3μm， ≥0.5μm ， ≥1μm ， ≥2μm， ≥5μm
更新時間:2025-11-07
美國泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
美國泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ，加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-11-07
瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-11-07
韓國Ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
韓國ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)hms3000，hms5000，用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
更新時間:2025-11-07
美國 MMR 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
美國 mmr 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) h5000，用于研究光電材料的電學(xué)特性，利用范德堡測量技術(shù)測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-11-07
半導(dǎo)體測試探針臺
半導(dǎo)體測試探針臺kup007，emp100c，emp100b，emp50s
更新時間:2025-11-07
德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala，它是用激光入射掃描樣品表面，收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:2025-11-07
美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
更新時間:2025-11-07
德國YXLON 高分辨率Ｘ射線檢測設(shè)備
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器（標(biāo)配） y.cheetah 高速平板探測器（標(biāo)配）
更新時間:2025-11-07
美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
更新時間:2025-11-07
美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
更新時間:2025-11-07

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